區(qū)別接觸式測(cè)厚儀與非接觸式測(cè)厚儀的方法

      測(cè)厚儀主要由主機(jī)和探頭兩部分組成。主機(jī)電路包括發(fā)射電路、接收電路、計(jì)數(shù)顯示電路三部分;探頭由電壓、壓電晶體和同軸電纜鑄封在探頭殼體內(nèi)構(gòu)成。

      測(cè)厚儀有接觸式和非接觸式兩種， 接觸式測(cè)厚儀測(cè)量周期長(zhǎng)，測(cè)量精度較低，測(cè)量范圍寬，用于低速、冷軋條件下軋件厚度測(cè)量。 非接觸式測(cè)厚儀由于具有反應(yīng)速度快、測(cè)量精度高、可實(shí)現(xiàn)連續(xù)檢測(cè)、易于與計(jì)算機(jī)聯(lián)網(wǎng)、易于實(shí)現(xiàn)厚度自動(dòng)控制等特點(diǎn)而得到廣泛應(yīng)用。

      非接觸式測(cè)厚儀有X射線測(cè)厚儀，射線測(cè)厚儀、超聲波、紅外線和激光測(cè)厚儀。前兩種為放射線測(cè)厚儀，它們是根據(jù)一定能量的射線穿過(guò)鋼板時(shí)，射線衰減強(qiáng)度與鋼板厚度有一定關(guān)系的原理做成的。射線由射線源發(fā)出后，一般由下而上經(jīng)鋼板吸收一部分，剩下的被檢測(cè)器接受。